Webブラウザを介したV-I特性が測定可能な電子回路学習支援システムの開発
Webブラウザを介したV-I特性が測定可能な電子回路学習支援システムの開発
カテゴリ: 全国大会
論文No: 1-006
グループ名: 【全国大会】平成20年電気学会全国大会論文集
発行日: 2008/03/19
タイトル(英語): Development of Study Support System for Electronic Circuits with Measurable V-I Characteristics via Web browser
著者名: 吉冨 貴司(有明工業高等専門学校),相知政司 (佐賀大学),佐々木 伸一(佐賀大学),古川 達也(佐賀大学)
著者名(英語): Yoshitomi Takashi(Ariake National College of Technology),Ohchi Masashi(Saga University),Sasaki Shinichi(Saga University),Furukawa Tatsuya(Saga University)
キーワード: V-I特性|学習支援システム|電子回路
要約(日本語): 本システムは、電気工学における電子回路の学習支援を目的としたシステムである。これまでに、「V-I特性の表示可能な電子回路学習支援システム」の開発を行ってきたが、システムを改良し、事前にシステム管理者が測定したV-I特性を閲覧できるだけだったものを、システム内に測定回路を構成し、いくつかの半導体素子のV-I特性を測定可能とした。測定の際は、学習者がWebブラウザで測定素子を選択・測定条件を設定し、測定を行う。測定後は、システム内のプログラムでグラフ化され、学習者が操作するWebブラウザにグラフが表示される。本機能の実装により、電子回路を設計する際に必要な素子の特性を測定することができる。さらに、学生実験のような測定回路を用いた測定と同様に、測定の際の印加電圧、測定条件を意識させることで、電子回路設計に関しての教育でも有用なシステムであると考えられる。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 1,651 Kバイト
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