弱電離気体プラズマの解析(LXXVII)‐Higher Order Samplingとスプライン関数の組み合わせによる電子エネルギー分布のサンプリング

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-075

グループ名: 【全国大会】平成20年電気学会全国大会論文集

発行日: 2008/03/19

タイトル(英語): Studies on weakly ionized gas plasma (LXXVII)-A novel technique for sampling electron energy distribution using Higher Order Sampling coupled with spline function

著者名: 木村 太朗(室蘭工業大学),佐藤孝紀 (室蘭工業大学),伊藤 秀範(室蘭工業大学)

著者名(英語): Taro Kimura(Muroran Institute of Technology),Kohki Satoh(Muroran Institute of Technology),Hidenori Itoh(Muroran Institute of Technology)

キーワード: モンテカルロシミュレーション|電子エネルギー分布|高次のサンプリング|平滑化スプライン

要約(日本語): モンテカルロシミュレーションにおける電子エネルギー分布の新しいサンプリング方法を開発した。この方法はHigher Order Sampling(HOS)と平滑化スプラインの組み合わせからできている。HOSによって，エネルギー軸上の微小区間(bin)内における電子数の密度勾配をLegendre多項式によって表現するとともに，この密度勾配を平滑化スプラインでつなぐと，binの境界においても連続した電子エネルギー分布が得られる。本研究で開発した方法によって得られた電子エネルギー分布は，従来のサンプリング方法で追跡電子数を十分に多くした結果と非常によく一致した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,168 Kバイト