大型ヘリカル装置LHDを用いた電流減衰時間の電子温度依存性評価

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-184

グループ名: 【全国大会】平成20年電気学会全国大会論文集

発行日: 2008/03/19

タイトル(英語): Evaluation of electron temperature dependence of current decay time in the Large Helical Device(LHD)

著者名: 柴田 欣秀(名古屋大学),岡本 征晃(名古屋大学),大野哲靖 (名古屋大学),後藤基志 (核融合科学研究所),渡邊 清政(核融合科学研究所)

著者名(英語): Yoshihide Shibata(Nagoya University),Masaaki Okamoto(Nagoya University),Noriyasu Ohno(Nagoya University),Motoshi Goto(National Institute for Fusion Science),Kiyomasa Watanabe(National Institute for Fusion Science)

キーワード: ディスラプション|電流減衰時間|電子温度計測|ヘリウム原子線強度比法|核融合プラズマ

要約(日本語): トカマク型核融合炉におけるディスラプション現象は原子分子過程と電磁流体不安定性が混在しているため電流減衰時間の決定機構は未解決のままである。しかし、ヘリカル型核融合炉では外部磁場により磁気面を形成しているため、原子分子過程の寄与のみを研究することが可能である。今回核融合科学研究所にある大型ヘリカル装置LHDで電流減衰実験を行ったところ、再結合過程に伴う急激なエネルギー損失がLHDでの電流減衰時間を決めている可能性があることがわかった。そして、He原子線強度比法とボルツマンプロット法を用いることにより電流減衰中の電子温度を評価することができた。この電子温度を用いて電流減衰時間との関係性について調べ、L/Rモデルの有用性を検討した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,006 Kバイト