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インパルスによるコンデンサの診断
インパルスによるコンデンサの診断
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カテゴリ: 全国大会
論文No: 2-010
グループ名: 【全国大会】平成20年電気学会全国大会論文集
発行日: 2008/03/19
タイトル(英語): Diagnosis of capacitors by applying impulse
著者名: 田中 正芳(芝浦工業大学)
著者名(英語): Masayoshi Tanaka(Shibaura Institute of Technology)
キーワード: コンデンサ|診断|インパルス
要約(日本語): インパルス試験機を用いて、コンデンサにインパルスを印加して、並列コイルとの減衰振動を発生させる。その現象からコンデンサの等価回路定数や損失の指標となる値の導出を検討した。減衰振動波形より、周波数、時定数を求めればコンデンサの静電容量値、Q値が求まることが確認できた。コンデンサは経時劣化、過電圧印加や温度変化などによって、静電容量値、Q値が減少すると考えられる。したがって、静電容量値、Q値を指標とすることでコンデンサが正常かどうかの診断が可能であると考えられる。最終的には、基板上に取り付けられている状態のコンデンサにインパルスを印加し、得られたデータからコンデンサの診断が出来るようにすることを目標とする。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 2,003 Kバイト
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