部分放電によるボイド表面劣化と絶縁破壊特性との関係の検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-018

グループ名: 【全国大会】平成20年電気学会全国大会論文集

発行日: 2008/03/19

タイトル(英語): Relation between void surface degradation by Partial Discharge and Breakdown

著者名: 小谷 嘉則(名古屋大学),古森郁尊 (鳥羽高専),加藤丈佳 (名古屋大学),鈴置 保雄(名古屋大学)

著者名(英語): Yoshinori Kodani(Nagoya University),Fumitaka Komori(Toba National College),Takeyoshi Kato(Nagoya University),Yasuo Suzuoki(Nagoya University)

キーワード: 部分放電|劣化|絶縁体

要約(日本語): 絶縁材料の寿命を支配する要因の1つに、絶縁部のボイド中の部分放電（PD）がある。ボイド中のPD現象の解明は、絶縁劣化診断精度の向上や、耐部分放電性に優れた材料の開発に有用な知見を与えると期待されている。今回、破壊直前に生じるパルスを検知し電圧印加を遮断し、破壊直前の表面状態の観測を行うことにより、破壊部と放電の集中箇所および表面の劣化状態との関係性を検討した。その結果、劣化生成物による突起部に電界が集中し、小さなPDが継続して起きることにより破壊に至った可能性が示唆された。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,102 Kバイト