化学欠陥による電気ポテンシャルとトラップ

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-032

グループ名: 【全国大会】平成20年電気学会全国大会論文集

発行日: 2008/03/19

タイトル(英語): Electrical Potential by Chemical Defects with Permanent Dipole and Charge Trap

著者名: 高田 達雄(武蔵工業大学),早瀬 悠二(武蔵工業大学),田原 麻衣(武蔵工業大学),田中 康寛(武蔵工業大学),吉田 真史(武蔵工業大学),岡本 達希(電力中央研究所)

著者名(英語): Tatsuo Takada(Musashi Institute of Technology),Yuji Hayase(Musashi Institute of Technology),Mai Tahara(Musashi Institute of Technology),Yasuhiro Tanaka(Musashi Institute of Technology),Masafumi Yoshida(Musashi Institute of Technology),Tatsuki Okamoto(Electric Power Engineering Research Laboratory)

キーワード: トラップ|双極子|化学欠陥|ポテンシャル分布|分子軌道計算法

要約(日本語): ポリエチレンに代表される絶縁材料にカルボニル基などの化学的欠陥が存在する場合の電気ポテンシャル分布を分子軌道計算法を用いて算出した。これらの化学的欠陥は、ポリエチレンなどの絶縁材料中に存在すると、電荷を捕獲するトラップとして働くと言われているが、そのポテンシャル分布を明らかにした例は少ない。そこで、本報告ではポリエチレンをC7H16により模擬し、カルボニル基などが存在する場合の電気的ポテンシャルを分子軌道計算法により算出した結果を報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 843 Kバイト