酸化防止剤を添加したポリエチレン中の空間電荷形成に及ぼす加熱温度の影響

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-044

グループ名: 【全国大会】平成20年電気学会全国大会論文集

発行日: 2008/03/19

タイトル(英語): The Effect of Heat Press Temperature on The Generation of Space-charge in Antioxidant Added Polyethylene

著者名: 鈴木 博和(千葉工業大学),野口 和夫(千葉工業大学),岡本 良夫(千葉工業大学),関井 康雄(関井技術士事務所),前野 恭(情報通信研究機構)

著者名(英語): Hirokazu Suzuki(Chiba Institute of Technology),Kazuo Noguchi(Chiba Institute of Technology),Yoshiwo Okamoto(Chiba Institute of Technology),Yasuo Sekii(Sekii Consulting Engineers Office),Takashi Maeno(National Institute of Information and Communications Technology)

キーワード: 空間電荷|ポリエチレン|酸化防止剤|架橋分解残渣|架橋温度|DCP

要約(日本語): 架橋ポリエチレンに直流電圧を加えたときに現れるヘテロ空間電荷は水分とアセトフェノンの相互作用、または分子構造中に硫黄原子を含む酸化防止剤とアセトフェノンの相互作用により生じることが確かめられている。筆者らはこれまでの研究で、後者には架橋剤として添加したDCPが関わっていることを確かめている。そこで今回は後者の場合をより深く検討するため、プレス温度を変えることにより、架橋温度とヘテロ空間電荷の体積密度の最大値の関係がどのように変化するかを調べた。また併せて分子構造中に硫黄原子が含まれない酸化防止剤を用いて同様に実験し、この酸化防止剤分子中の硫黄原子の有無によって結果が大きく異なることを確かめた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,844 Kバイト