発振回路法によるひずみ計測と損傷モニタリングへの応用

カテゴリ: 全国大会

論文No: 3-130

グループ名: 【全国大会】平成20年電気学会全国大会論文集

発行日: 2008/03/19

タイトル(英語): Strain Measurement by Oscillation Circuit Method and Application for Monitoring of Fatigue Damage

著者名: 佐伯 弥 (芝浦工業大学),齊藤敦史 (芝浦工業大学),宇都宮登雄 (芝浦工業大学)

キーワード: ひずみゲージ|損傷モニタリング|発振回路法

要約(日本語): 本研究では発振回路法を用いたより簡便なひずみゲージ出力の測定方法を提案する．発振回路法では抵抗変化型センサであるひずみゲージを発振回路中の一素子として挿入する．これによりゲージの抵抗変化は発振周波数の変化に変換される．計測器も簡易な周波数カウンタを用いることができるため，小型で安価なひずみ計測モジュールを構築することができる．ここでは発振回路法を用いたひずみ計測手法と同手法による静荷重下でのひ応力-ひずみ測定結果について述べる．

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,751 Kバイト