ホール素子走査顕微鏡によるBi2223線材の電流分布観察
ホール素子走査顕微鏡によるBi2223線材の電流分布観察
カテゴリ: 全国大会
論文No: 5-131
グループ名: 【全国大会】平成20年電気学会全国大会論文集
発行日: 2008/03/19
タイトル(英語): Observation of current distribution in Bi2223 tape by using Hall-probe scanning microscopy
著者名: 井上 昌睦(九州大学),阿比留健志 (九州大学),本田 貴裕(九州大学),木須隆暢 (九州大学),綾井 直樹(住友電気工業),菊池 昌志(住友電気工業),石田 友信(住友電気工業),佐藤謙一 (住友電気工業),岡元 洋(九州電力)
著者名(英語): Masayoshi Inoue(Kyushu University),Kenshi Abiru(Kyushu University),Yoshihiro Honda(Kyushu University),Takanobu Kiss(Kyushu University),Naoki Ayai(Sumitomo Electric INdustries),Masaki Kikuchi(Sumitomo Electric INdustries),Tomonobu Ishida(Sumitomo Electric INdustries),Ken-ichi Sato(Sumitomo Electric INdustries),Hiroshi Okamoto(Kyusyu Electric Power)
キーワード: 超電導線材|ビスマス系高温超伝導体|電流分布|可視化
要約(日本語): Bi2223線材内を流れる電流の面内分布を、ホール素子走査顕微鏡を用いて測定した。その結果、線材長手方向にほぼ均一に電流が流れているものの、局所的には線材幅方向に電流が流れる箇所が存在していることが明らかとなった。このような現象は、フィラメント内に電流を阻害する因子が存在していること、もしくはフィラメント間のブリッジングが存在していることを示唆しており、更なる臨界電流特性向上の指針を得るにあたり重要な新知見である。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 768 Kバイト
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