粒子法と有限要素法との連成による静電霧化イオンの解析法

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-185

グループ名: 【全国大会】平成20年電気学会全国大会論文集

発行日: 2008/03/19

タイトル(英語): Analysis method of negative ion by electrostatic atomization employing MPS method and FEM

著者名: 岡上 雄(大阪大学),平田 勝弘(大阪大学),宮坂 史和(大阪大学)

著者名(英語): Okaue Yu(Osaka University),Katsuhiro Hirata(Osaka University),Fumikazu Miyasaka(Osaka University)

キーワード: 3次元有限要素解析|粒子法|連成解析|静電霧化イオン|電場解析|微小液滴

要約(日本語): 近年静電霧化イオンを利用した空気清浄機やドライヤーといった多くの電気製品が開発されている。しかしそのイオン発生メカニズムについては正確には解明されていないのが現状である。我々は静電霧化イオンの発生メカニズムを理論的に解明するための基礎的研究を進めている。本稿では、流体解析手法の1つである粒子法 (MPS法)と有限要素法(FEM)を連成した解析法を提案し、簡略化した静電霧化イオン発生装置の水の挙動を解析した。その結果、本解析手法の有効性を確認したので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,479 Kバイト