直流高電界下における絶縁スペーサの帯電機構

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-162

グループ名: 【全国大会】平成20年電気学会全国大会論文集

発行日: 2008/03/19

タイトル(英語): Charge Accumulation Mechanism of Insulation Spacer under DC Electric Field

著者名: 老田 友紀(東京大学),田中 大樹(東京大学),熊田 亜紀子(東京大学),日高 邦彦(東京大学),保科 好一(東芝)

著者名(英語): Yuki Oida(The University of Tokyo),Daiki Tanaka(The University of Tokyo),Akiko Kumada(The University of Tokyo),Kunihiko Hidaka(The University of Tokyo),Yoshikazu Hoshina(TOSHIBA CORPORATION)

キーワード: 絶縁スペーサ|帯電|塵埃

要約(日本語): ガス絶縁開閉機器は、交流に用いられる場合においても断路器開極時に最大で運転電圧波高値分の直流電圧が残留する可能性がある。このような状況下においてスペーサ近傍の電界分布は、容量分布に基づいて決定される容量場から、抵抗分布に基づいて決定される抵抗場へと移行する。静電抵抗場への移行に伴いスペーサとガスの界面には帯電が生じ、逆極性の電圧が加わった場合の破壊電圧の低下が指摘され、数多くの研究がなされている。直流電界下におけるスペーサ帯電現象を測定し、その帯電機構に迫ることを目的として、帯電電荷密度分布測定装置を用いた実験を行っている。本稿では、金属及び誘電体異物が帯電特性に与える影響を測定したので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 691 Kバイト