沿面リーダ残留電荷密度分布の高分解測定

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-048

グループ名: 【全国大会】平成21年電気学会全国大会論文集

発行日: 2009/03/15

タイトル(英語): Residual Charge Distribution Measurement of Surface Leader

著者名: 米澤 寛(東京大学),松岡 成居(東京大学),熊田 亜紀子(東京大学),日高 邦彦(東京大学)

著者名(英語): Hiroshi Yonezawa(Tokyo University),Shigeyasu Matsuoka(Tokyo University),Akiko Kumada(Tokyo University),Kunihiko Hidaka(Tokyo University)

キーワード: 放電|残留電荷|電圧測定|沿面放電

要約(日本語): 誘電体表面に発生する沿面放電は、電力機器や電子素子の絶縁設計上その抑制が重要になる。一方で、沿面放電による放電プラズマは、有害ガス処理に有用であるなど積極的利用としての工学的応用範囲の広い現象である。そのためその進展機構の解明が強く望まれている。それには、沿面放電の電荷密度分布、電界強度分布の実験データが必要不可欠である。電荷測定法として、放電進展終了後に誘電体表面に残留した電荷を表面電位計で測定する方法がある。しかし残留電圧が高いため測定時に表面電位計と試料の間に放電が生じてしまうなど、満足のいく測定が行われてきていなかった。今回、試料に種々の抵抗率の材料を組み合わせることで、測定時の試料表面電位を低減し、40kV 以上の電圧を印加して発生させた沿面リーダの残留電荷密度分布測定に成功したので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,506 Kバイト