光学式三次元形状計測装置の精度向上

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-141

グループ名: 【全国大会】平成21年電気学会全国大会論文集

発行日: 2009/03/15

タイトル(英語): Improvement of 3D shape measurement system

著者名: 安田 紘晃(愛知工業大学),内田 敬久(愛知工業大学)

著者名(英語): Yasuda Hiroaki(Aich Institude of Technology),Uchida Yoshihisa(Aich Institude of Technology)

キーワード: 三次元計測|形状計測|光変調パターン

要約(日本語): 三次元形状計測は非接触・非侵襲・短時間計測・構造が簡単などの特徴から産業や医療などの広い分野での利用が見込まれる。本研究では光変調パターン投影による三次元形状計測法を提案してきた。これは電気的に制御されたパターン光を測定物体に投影して物体の三次元座標値を得る方法である。本論文では、種々の測定物に対応し、精度向上を図るため、光変調パターン・投影方向・投影回数を変更する各計測プログラムを作成し検討を行った。計測結果の一例として、光変調パターンに白黒格子、測定物に円柱（直径50.5mm）を用いて三次元形状計測を行い、円柱の直径より計測誤差を検討した結果、測定誤差が0.1mm以下となり、計測精度が向上することが確認できた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 725 Kバイト