改良型McKeown電極系による極めて薄いPENフィルムの絶縁破壊の強さの測定

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-005

グループ名: 【全国大会】平成21年電気学会全国大会論文集

発行日: 2009/03/15

タイトル(英語): Measurement of Breakdown Strength of Extremely Thin PEN Film using Improved McKeown Electrode Systems

著者名: 小池 貞則(豊橋技術科学大学),村上 義信(豊橋技術科学大学),長尾 雅行(豊橋技術科学大学)

著者名(英語): Sadanori Koike(Toyohashi University of Technology),Yoshinobu Murakami(Toyohashi University of Technology),Masayuki Nagao(Toyohashi University of Technology)

キーワード: 絶縁破壊|PENフィルム|ポリエチレンナフタレートフィルム|絶縁破壊の強さ|McKeown電極

要約(日本語): 高分子フィルムの電気的な要素の一つとして、絶縁破壊の強さ(Fb)というパラメータがあるが、膜厚が極めて薄い際、JIS規格で測定を行うと、部分放電や電極-試料間の異物、微小な空間等による部分放電の影響を多大に受けてしまい測定できる絶縁破壊の強さは想定しているものより低い値になることがある。 筆者らはこの問題を解決するために極めて薄いフィルムでも絶縁破壊の強さが測定と思われるMcKeown電極系の作製方法を提案した。 本研究では、この改良型McKeown電極系の優位性を確かめるため、PENフィルムの厚さを変化させてFbを測定し、JIS規格(C-2319)で測定されたFbとの比較検討を行ったので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 908 Kバイト