宇宙機用誘電体材料に対する体積抵抗率計測法

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-010

グループ名: 【全国大会】平成21年電気学会全国大会論文集

発行日: 2009/03/15

タイトル(英語): Volume Resistivity Measurement of Dielectric Film for Spacecraft Application

著者名: 渡邉 力夫(武蔵工業大学),三宅 弘彰(武蔵工業大学),仁田 工美(宇宙航空研究開発機構)

著者名(英語): Rikio Watanabe(Musashi Institute of Technology),Hiroaki Miyake(Musashi Institute of Technology),Kumi Nitta(JAXA)

キーワード: 体積抵抗率|誘電体|電荷蓄積法

要約(日本語): 従来，誘電体の体積抵抗率は直流高電圧印加下の微少電流からオームの法則を用いて測定されてきた．宇宙機に使用される誘電体は，オームの法則が成り立たない高電界に晒される可能性があり，宇宙環境を模擬した環境内で体積抵抗率を計測する必要がある．著者らは真空チャンバと電子銃を用い，電子線照射後の資料表面電位の時間履歴を取得し，その減衰率から体積抵抗率を測定する電荷蓄積法の計測システムを開発した．実験の結果から，照射終了数日は電荷は急激に減衰し，高い導電性を有するが，一週間以上経過すると暗電流領域になり，導電性が急速に低下する．このときの体積抵抗率は従来法に比べて一桁ほど大きい値となる．本発表では，実験パラメータや試験条件が体積抵抗率に与える影響を議論する．

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 905 Kバイト