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Gleitbünschel沿面放電下における微小空隙内の残留電荷領域の広がり

Gleitbünschel沿面放電下における微小空隙内の残留電荷領域の広がり

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-037

グループ名: 【全国大会】平成21年電気学会全国大会論文集

発行日: 2009/03/15

タイトル(英語): Spread of Residual Charge Distribution in a Micro Gap under Surface Discharge of Gleitbüschel Type

著者名: 木下 幸弘(名古屋工学院専門学校),今井 國治(名古屋大学),木全 浩市(タツタ電線)

著者名(英語): Yukihiro Kinoshita(Nagoya Kougakuin College of Technology),Kuniharu Imai(Nagoya University),Kouichi Kimata(Tatsuta Electric Wire & Cable Co. Ltd)

キーワード: 微小空隙|沿面放電|Gleitbüschel|空間電荷効果|酸化劣化

要約(日本語): 本研究では、ホワイトヘッドモデルを基本とした模擬ボイドモデルを作成し、このモデルの微小空隙内で点弧する部分放電より摩耗的なPD劣化破壊過程について検討を行った。微小空隙内の沿面放電形態はPolbueschelとGleitbueschelの二種類があり、Gleitbueschelについてボイド底面を想定したフィルム表面の残留電荷を測定し絶縁破壊に至る過程について検討を行った。その結果、放電初期にはフィルムに電荷が蓄積するが、絶縁破壊直前にはほとんど蓄積していなかったので空間電荷効果は小さく、一発あたりの放電エネルギーが高いGleitbueschelゆえ酸化劣化による絶縁破壊が支配的となるものと考察した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,190 Kバイト

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