プロトン照射絶縁材料における電荷蓄積特性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-065

グループ名: 【全国大会】平成21年電気学会全国大会論文集

発行日: 2009/03/15

タイトル(英語): Charge Accumulation Characteristics in Proton Beam Irradiated Polymers

著者名: 沼田 誠也(武蔵工業大学),丸田 真吾(武蔵工業大学),三宅 弘晃(武蔵工業大学),田中 康寛(武蔵工業大学),高田 達雄(武蔵工業大学)

著者名(英語): Seiya Numata(Musashi Institute of Technology),Shingo Maruta(Musashi Institute of Technology),Horoaki Miyake(Musashi Institute of Technology),Yasuhiro Tanaka(Musashi Institute of Technology),Tatsuo Takada(Musashi Institute of Technology)

キーワード: 宇宙機|絶縁材料|プロトン|電荷分布|PEA法

要約(日本語): 宇宙機は宇宙空間の激しい温度変動から搭載機器を守るために、熱制御材である積層された絶縁材料 (MLI：Multi Layer Insulator)で覆われているが、電子や陽子などの高エネルギー荷電粒子線に曝されることで、絶縁材料の劣化、内部機器の故障を招く恐れがある。そこで本研究では、宇宙機の絶縁材料で生じる帯電メカニズムを解明するために、パルス静電応力 (PEA) 法を用いた電荷分布測定装置を開発した。今回は、実際にMLIとして最も多く使用されているポリイミドフィルム(PI)にプロトンを照射した場合の電荷蓄積挙動を測定した。その結果、プロトンを照射したことによる正電荷の蓄積が確認でき、またその蓄積挙動においては、PI特有の挙動が得られた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,058 Kバイト