磁粉探傷試験の有限要素法モデルの検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-117

グループ名: 【全国大会】平成21年電気学会全国大会論文集

発行日: 2009/03/15

タイトル(英語): FEM Model of Magnetic Particle Testing

著者名: 小坂 大吾(職業能力開発総合大学校),水上 祥次(職業能力開発総合大学校),橋本 光男(職業能力開発総合大学校)

著者名(英語): Daigo Kosaka(Polytechnic University),Syouji Mizukami(Polytechnic University),Mitsuo Hashimoto(Polytechnic University)

キーワード: 電磁非破壊検査|磁粉探傷試験|有限要素法

要約(日本語): 磁粉探傷試験におけるきず形状の定量的な評価手法の確立のため、磁粉探傷試験を有限要素法に適用するための基礎的な検討を行った。実験から励磁電流は磁粉模様の高さに影響を与えることを明らかにした。十分な磁粉が存在する場合、磁粉模様の外では漏洩磁束が十分に小さくなることを利用して磁粉の集合体のみかけの透磁率を明らかにした。これらの踏まえ、磁粉の数値解析モデルの提案を行う。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 347 Kバイト