粒子法・有限要素法の連成による静電霧化現象解析の精度改善

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-161

グループ名: 【全国大会】平成21年電気学会全国大会論文集

発行日: 2009/03/15

タイトル(英語): Accuracy improvement of negative ion Analysis by electrostatic atomization employing MPS method and FEM

著者名: 吉川 岳(大阪大学),岡上雄 (大阪大学),山本 優文(大阪大学),平田 勝弘(大阪大学),宮坂 史和(大阪大学)

著者名(英語): Gaku Yoshikawa(Osaka University),Yu Okaue(Osaka University),Masahumi Yamamoto(Osaka University),Kathuhiro Hirata(Osaka University),Humikazu Miyasaka(Osaka University)

キーワード: 静電霧化|テイラーコーン|粒子法　|有限要素法|連成解析　|表面張力　

要約(日本語): 近年静電霧化イオンを利用した空気清浄機やドライヤーといった多くの電気製品が開発されている。しかしそのイオン発生メカニズムについては正確に解明されていないのが現状である。我々は流体解析手法のひとつである粒子法と、電場解析手法のひとつである有限要素法との連成解析を提案し、静電霧化イオン発生装置の簡略モデルにおける水の挙動を解析しているしかし表面張力の計算において水滴の挙動が安定せず、連成解析の精度を低下させていた。そこで本稿では、表面張力の計算に粒子間ポテンシャルを導入し、安定した数値計算を行うとともに、解析値の定量的な評価を行うことで本解析手法の有効性を確認する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,619 Kバイト