ボイド放電による固体絶縁物の長期劣化とAEセンサ出力との相関性に関する検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-222

グループ名: 【全国大会】平成21年電気学会全国大会論文集

発行日: 2009/03/15

タイトル(英語): Experimental Investigation for the Relationship between Long-term Degradation by Void Discharge and Output Signal of the AE Sensor

著者名: 佐藤純一 (東芝),宮内 康寿(東芝),多賀谷 治(東芝),阪口 修(東芝)

著者名(英語): Junichi Sato(Toshiba corporation),Yasuhisa Miyauchi(Toshiba corporation),Osamu Tagaya(Toshiba corporation),Osamu Sakaguchi(Toshiba corporation)

キーワード: 固体絶縁物|AEセンサ|ボイド放電|エポキシ

要約(日本語): 本論文は、固体絶縁物を長期劣化させた場合の部分放電電荷量の変化とAE法による検出出力との相関性に関する報告であり、課電開始から約4年経過までの結果について報告した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 675 Kバイト