太陽電池モジュールの暴露試験結果からの出力低下原因の検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-058

グループ名: 【全国大会】平成21年電気学会全国大会論文集

発行日: 2009/03/15

タイトル(英語): Output behavior under long term field exposure test of PV module

著者名: 加藤 宏(電気安全環境研究所),水上誠志朗 (電気安全環境研究所),千葉 雅俊(電気安全環境研究所)

著者名(英語): Hiroshi Kato(Japan Electrical Safety & Environment Technology Laboratories),Seishiro Mizugami(Japan Electrical Safety & Environment Technology Laboratories),Masatoshi Chiba(Japan Electrical Safety & Environment Technology Laboratories)

キーワード: 太陽電池|暴露試験|出力低下

要約(日本語): 現在，太陽電池モジュール（以下，「モジュール」と略す）は，25年とも，30年とも言われる寿命が期待されるに至った。しかし，この寿命を評価する標準的な試験方法は，現時点においては発表されておらず，今後この寿命を評価する加速試験の早急な開発が望まれている。この様な状況下において，JETは，先の加速試験を開発に向け，平成20年9月の電力・エネルギー部門大会において，「15年に及ぶ太陽電池モジュールの暴露試験」と題して，実フィールドにおけるモジュールのタイプ毎の出力の変化率を発表した。本稿では，先の出力変化率を基に，モジュールのタイプ毎の出力低下原因について検討した結果を報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,468 Kバイト