結晶系Si太陽電池の順・逆方向電圧印加と発熱・破壊試験

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-059

グループ名: 【全国大会】平成21年電気学会全国大会論文集

発行日: 2009/03/15

タイトル(英語): Forward Current Pyretic Test and Reverse Biased Breakdown Test of c-Si PV Cells and Modules

著者名: 土井卓也 (産業技術総合研究所),山田隆夫 (産業技術総合研究所),池田一昭 (産業技術総合研究所),加藤和彦 (産業技術総合研究所)

キーワード: 長期信頼性|太陽電池モジュール|劣化|周期的熱ストレス

要約(日本語): 結晶系Si太陽電池モジュールの寿命は20年～30年と言われている。しかしながら、その寿命を評価する試験手法は確立されていない。太陽電池モジュールは複数の構成材料からなる複層体であり、その寿命は材料単体の寿命を単純に重ね合わせても推定できないこと、単体間界面での相互作用もあることなどが現象を複雑にしている。複層体の寿命評価を行うには、まず、寿命に及ぼす因子を単体ごとに調べ、その後、複層体で考察できるモデルへ発展させる必要がある。本報は結晶Si系PVセルおよび単セル・モジュールへの電圧印加による破壊試験の結果および実使用中太陽電池モジュールの不具合事例調査の結果を報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 187 Kバイト