コンパクトプラズマ装置AIT-PIDを用いたタングステン-ヘリウム PWI研究

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-186

グループ名: 【全国大会】平成22年電気学会全国大会論文集

発行日: 2010/03/05

タイトル(英語): W-He PWI Studies using Compact Plasma Device AIT-PID

著者名: 宮本 隆徳(愛知工業大学),高村 秀一(愛知工業大学),辻川 尚之(愛知工業大学),富田祐司 (愛知工業大学),鈴木 健吾(愛知工業大学),皆川雄顕 (愛知工業大学),西脇 達也(愛知工業大学)

著者名(英語): Takanori Miyamoto(Aichi Institute of Technology),Shuichi Takamura(Aichi Institute of Technology),Takayuki Tsujikawa(Aichi Institute of Technology),Yuji Tomida(Aichi Institute of Technology),Kengo Suzuki(Aichi Institute of Technology),Takaaki Minagawa(Aichi Institute of Technology),Tatsuya Nishiwaki(Aichi Institute of Technology)

キーワード: プラズマ|プラズマ-壁相互作用|核融合|コンパクトプラズマ源|タングステン-ヘリウム損傷|物性評価

要約(日本語): 核融合炉に用いられるプラズマ対向材料には高融点、低スパッタ率であることなどが望まれる。これらの条件から対向材料として使用を期待されているのがタングステンである。しかし、今までの研究よりタングステンに核融合生成物ヘリウムを照射するとホール/バブルや繊維状のナノ構造が形成することが確認されている。これをヘリウム損傷と呼んでいる。従って、ヘリウムとタングステンの相互作用過程の解明とその損傷抑制が重要となってくる。本研究では、当研究室で開発したプラズマ-壁相互作用研究用実験装置AIT-PIDを使用し、タングステンにヘリウムプラズマを照射する。そして、FE-SEMでその表面を観測する研究である。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,034 Kバイト