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電子照射後の電荷減衰緩和時間によるトラップ間距離の算出
電子照射後の電荷減衰緩和時間によるトラップ間距離の算出
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カテゴリ: 全国大会
論文No: 2-041
グループ名: 【全国大会】平成22年電気学会全国大会論文集
発行日: 2010/03/05
タイトル(英語): Estimation for carrier tarp interval from charge decay relaxation time of electron beam irradiated polymer
著者名: 早瀬 悠二(東京都市大学),高田 達雄(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学)
著者名(英語): Yuji Hayase(Tokyo City University),Tatsuo Takada(Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka(Tokyo City University)
キーワード: 空間電荷|トラップ|高分子|LDPE|PI|PET
要約(日本語): PEA法、PWP法による空間電荷測定では、観測されたキャリアが、どのような場所、どの程度の深さにトラップされているかは不明であった。そこで、分子軌道法を用いて高分子内のトラップサイトを推定する研究を行い、PETやPIでは分子構造の一部がトラップとなることを報告してきた。しかし、分子軌道法と測定結果を結ぶ結果が不足している。そこで本稿では、高分子内に蓄積した空間電荷の減衰緩和時間からトラップ間隔を推定する方法を提案する。提案した手法から、LDPEでは分子鎖間に、PIおよびPETでは分子内にトラップがあると推定でき、分子軌道法による推定結果と一致している。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 971 Kバイト
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