リセス型低密度ポリエチレン内部の空間電荷蓄積と絶縁破壊電界に対する試料厚さの影響

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-049

グループ名: 【全国大会】平成22年電気学会全国大会論文集

発行日: 2010/03/05

タイトル(英語): Influence of Thickness on DC Breakdown Caused by Space Charge Accumulation in Recessed Low-Density Polyethylene

著者名: 浅田 章義(愛媛大学),門脇 一則(愛媛大学),木谷 勇(愛媛大学)

著者名(英語): Akiyoshi Asada(Ehime University),Kazunori Kadowaki(Ehime University),Isamu Kitani(Ehime University)

キーワード: 低密度ポリエチレン|空間電荷|絶縁破壊|厚さ効果

要約(日本語): 厚さの異なるリセス型低密度ポリエチレンに平均電界が同一となるような直流高電圧を破壊に至るまでもしくは5時間印加したときの試料内部の空間電荷挙動をパルス静電応力法を用いて測定した。その結果いずれの試料においても正のパケット状電荷が正極側から負極側へ電荷密度を高めながら移動し，その後速度が低下していき負極近傍で停滞した。薄い試料では絶縁破壊には至らなかったが厚い試料に関しては絶縁破壊が生じた。そのときの試料内部の最大電界強度を比較すると厚い試料の方がより電界が高められていた。また，破壊した試料において，電界が最大となった時点で絶縁破壊が生じるのではなく電界が高められた後しばらくしてから破壊が生じた。

原稿種別: 日本語

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