絶縁体中ボイドでの部分放電による絶縁破壊の温度依存性の検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-059

グループ名: 【全国大会】平成22年電気学会全国大会論文集

発行日: 2010/03/05

タイトル(英語): Study on Temperature Dependence of Dielectric Breakdown through Partical Discharge in Void in Insulator

著者名: 豊田 晃一(名古屋大学),古森郁尊 (鳥羽商船高等専門学校),加藤 丈佳(名古屋大学),鈴置 保雄(名古屋大学)

著者名(英語): Kouichi Toyoda(Nagoya University),Fumitaka Komori(Toba National College),Takeyoshi Katou(Nagoya University),Yasuo Suzuoki(Nagoya University)

キーワード: 部分放電|絶縁破壊|温度依存性

要約(日本語): 絶縁材料の寿命を支配する要因の１つに、絶縁部のボイド中の部分放電(PD)がある。ボイド中のPD現象の解明は絶縁劣化診断精度の向上などに有用な知見を与えると期待されている。これまで我々はPDに伴う発光や課電後の試料表面の観察を行った。結果、ボイド中の雰囲気ガスが変化しない開放ボイドでは大きなPDが持続するが長時間破壊せず、ボイド内部の雰囲気ガスが変化する密閉ボイドでは小さいPDが発生するにもかかわらず短時間で破壊する結果を得た。この結果から我々は、密閉ボイドでは局部への注入エネルギーの累積が破壊に関係している可能性、そしてその一例として温度上昇が関与した破壊を考えた。そこでPDが局部に集中した状態で温度を上昇させ絶縁破壊までの時間に及ぼす影響を検討した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 954 Kバイト