偏光分析CMOSイメージセンサを用いたインライン不斉計測システムの開発

カテゴリ: 全国大会

論文No: 3-117

グループ名: 【全国大会】平成22年電気学会全国大会論文集

発行日: 2010/03/05

タイトル(英語): Development of in-line chiral analysis system using polarization-analyzing CMOS image sensor

著者名: 藤岡 侑司(奈良先端科学技術大学院大学),下畠弘也 (奈良先端科学技術大学院大学),野田 俊彦(奈良先端科学技術大学院大学),笹川 清隆(奈良先端科学技術大学院大学),徳田 崇(奈良先端科学技術大学院大学),寺尾 公維(奈良先端科学技術大学院大学),堤 健(奈良先端科学技術大学院大学),垣内 喜代三(奈良先端科学技術大学院大学),太田 淳(奈良先端科学技術大学院大学)

著者名(英語): Yuji Fujioka(Nara Institute of Science and Technology),Hiroya Shimohata(Nara Institute of Science and Technology),Toshihiko Noda(Nara Institute of Science and Technology),Kiyotaka Sasagawa(Nara Institute of Science and Technology),Takashi Tokuda(Nara Institute of Science and Technology),Kimitada Terao(Nara Institute of Science and Technology),Ken Tsutsumi(Nara Institute of Science and Technology),Kiyomi Kakiuchi(Nara Institute of Science and Technology),Jun Ohta(Nara Institute of Science and Technology)

キーワード: CMOSイメージセンサ|不斉計測|偏光分析

要約(日本語): 偏光情報は、医療・農薬など生命科学研究の分野をはじめ機能性材料の分野で重要となる不斉合成の評価に用いられている。不斉合成の評価は旋光計等によって行われるが、従来の旋光計は高価、大型で、反応系の試料を随時取り出して測定を行うものであり、反応時のリアルタイム計測が困難である。そこで、我々は偏光分析CMOSイメージセンサを用いることで反応制御領域・計測機能の集積化（インライン化）を考案し、安価、小型で、リアルタイム計測を可能とする不斉計測システムを構築した。本システムは光源、試料セル、偏光分析CMOSイメージセンサの構成となっており、実際にL-メントールの不斉評価を行った。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 837 Kバイト