フォトトランジスタと半導体レーザを用いた建築物の層間変位センサの開発

カテゴリ: 全国大会

論文No: 3-137

グループ名: 【全国大会】平成22年電気学会全国大会論文集

発行日: 2010/03/05

タイトル(英語): Relative Displacement Sensor for Buildings using Phototransistors and a Semiconductor Laser

著者名: 金川 清(早稲田大学),松谷 巌(早稲田大学),冨士 良太(早稲田大学),佐藤摩弥 (早稲田大学),谷井 孝至(早稲田大学),西谷 章(早稲田大学),大泊 巌(早稲田大学),高橋 元一(鹿島建設),畑田 朋彦(鹿島建設),片村立太 (鹿島建設)

著者名(英語): Kanekawa Kiyoshi(Waseda University),Matsuya Iwao(Waseda University),Tomishi Ryouta(Waseda University),Sato Maya(Waseda University),Tanii Kouji(Waseda University),Nishitani Akira(Waseda University),Ohdomari Iwao(Waseda University),Takahasi Motoichi(Kajima Corporation),Hatada Tomohiko(Kajima Corporation),Katamura Ryouta(Kajima Corporation)

キーワード: 層間変位|センサ|フォトトランジスタ|レーザ|建物|損傷評価

要約(日本語): 建築物が地震等の振動で受けた損傷を評価する手段として、振動中の変位量および残留変位を知ることが有効である。特に高層ビルディングにおいては各階の平行移動による層間変位量を知ることが重要である。この層間変位量を測定する手段は、従来、各階に設置した加速度計、速度計で変位によって生じる加速度、速度を計測し、積分処理で変位量を算出する方法が主流であったが、従来法によって求められる変位量には積分処理に伴う誤差が含まれることが問題となっていた。本報告では層間変位を直接測定する手法を提案する。本提案手法を用いて、通常の室内光環境で実建物の変位を同時に多点測定し、周波数上限が50Hzでかつ、1Hz以下の低周波振動および残留変位を測定することができた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 874 Kバイト