TDR測定による電力変換回路基板上に直列接続された寄生インダクタンスの分離方法

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-003

グループ名: 【全国大会】平成22年電気学会全国大会論文集

発行日: 2010/03/05

タイトル(英語): Separation measurement of series connected parasitic impedances on the power electronics circuit board using TDR

著者名: 橋野 哲(首都大学東京),清水 敏久(首都大学東京)

著者名(英語): Satoshi Hashino(Tokyo Metropolitan University),Toshihisa Shimizu(Tokyo Metropolitan University)

キーワード: TDR測定法|寄生インピーダンス|高パワー密度化

要約(日本語): 半導体電力変換装置の高パワー密度化を達成するには，デバイスや受動素子及び配線パターンの寄生成分の正確な把握が重要な技術となる。寄生成分の把握技術に関しては，インピーダンス不連続点の信号の反射を利用するTDR測定法を用いてパワーデバイスの寄生成分を測定する研究が行われているが，個体部品の計測に留まっているのが現状である。本研究では，TDR測定法を応用して電力変換回路基板に存在する複数の寄生成分を正確に把握する測定手法について開発を行っている。本稿では２パターンの降圧チョッパ回路基板の寄生インピーダンスをTDR法により測定し，その反射波形から直列に接続された回路構成要素各部の寄生インダクタンスを分離する方法を示す。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 2,068 Kバイト