走査ホール素子顕微鏡によるDI-BSCCO線材の残留磁界分布測定

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-092

グループ名: 【全国大会】平成22年電気学会全国大会論文集

発行日: 2010/03/05

タイトル(英語): Measurement of remanent field distributions on DI-BSCCO wires by scanning Hall-probe microscopy

著者名: 稲田 亮史(豊橋技術科学大学),馬場 翔平(豊橋技術科学大学),牧原 知秀(豊橋技術科学大学),中村 雄一(豊橋技術科学大学),太田 昭男(豊橋技術科学大学),坂元 周作(木更津工業高等専門学校)

著者名(英語): Ryoji Inada(Toyohashi University of Technology),Shohei Baba(Toyohashi University of Technology),Tomohide Makihara(Toyohashi University of Technology),Yuichi Nakamura(Toyohashi University of Technology),Akio Oota(Toyohashi University of Technology),Shusaku Sakamoto(Kisarazu National College of Technology)

キーワード: Bi系銀シース線材|臨界電流|均質性|残留磁界|ホール素子顕微鏡

要約(日本語): Bi系銀シース線材の最終焼成工程において加圧焼成工程を適用することにより，従来の大気圧焼成を用いた場合と比較して飛躍的に高い臨界電流が得られることが報告されている。また，線材両面にSUS等の金属テープを補強材として張り付けることにより，線材の機械特性も大きく向上することが確認されている。一方で，これらの線材長手に渡る均質性のより詳細な評価が，品質保証および特性向上の観点から重要である。本研究では，住友電工製DI-BSCCO線材の残留磁界分布を走査ホール素子顕微鏡により測定し，補強材の有無が線材長手方向における均質性におよぼす影響を評価した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 994 Kバイト