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粒子法・有限要素法の連成による射出水滴の電荷を考慮した静電霧化現象の解析

粒子法・有限要素法の連成による射出水滴の電荷を考慮した静電霧化現象の解析

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-136

グループ名: 【全国大会】平成22年電気学会全国大会論文集

発行日: 2010/03/05

タイトル(英語): Analysis with consideration of charged radiated water drop by electrostatic atomization employing MPS method and FEM

著者名: 中村 遼太(大阪大学),吉川 岳(大阪大学),岡上 雄(大阪大学),平田 勝弘(大阪大学),宮坂 史和(大阪大学)

著者名(英語): Nakamura Ryota(Osaka University),Yoshikawa Gaku(Osaka University),Okaue Yu(Osaka University),Hirata Katsuhiro(Osaka University),Miyasaka Humikazu(Osaka University)

キーワード: 静電霧化現象|粒子法|有限要素法|解析|静電霧化イオン

要約(日本語): 近年静電霧化イオンを利用した空気清浄機やドライヤーなどの多くの電気製品が開発されているが、そのイオン発生メカニズムについては正確に解明されていない。著者らは、その発生メカニズムを理論的に解明するため、粒子法と有限要素法を連成した解析手法を用いて、静電霧化イオン発生装置の簡略モデルでの水滴の挙動の解析を行ってきた。しかし、実際の現象では微小水滴の射出後に水滴先端が大きく振動するのに対し、解析ではそれが再現できていなかった。この原因の一つとして、射出された微小水滴の負電荷による電界への影響が考えられる。 本稿でその微小水滴の電荷を考慮した静電霧化現象の解析法を提案し、その妥当性を確認したので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,576 Kバイト

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