GISスペーサの表面導電率分布を考慮した電界計算法
GISスペーサの表面導電率分布を考慮した電界計算法
カテゴリ: 全国大会
論文No: 6-210
グループ名: 【全国大会】平成22年電気学会全国大会論文集
発行日: 2010/03/05
タイトル(英語): Electric Field Computation of GIS Insulator Considering Surface Conductivity Distribution
著者名: 道念 大樹(東京大学),松岡 成居(東京大学),熊田 亜紀子(東京大学),日高 邦彦(東京大学),保科 好一(東芝),武井 雅文(東芝)
著者名(英語): Taiki Donen(The University of Tokyo),Shigeyasu Matsuoka(The University of Tokyo),Akiko Kumada(The University of Tokyo),Kunihiko Hidaka(The University of Tokyo),Yoshikazu Hoshina(TOSHIBA CORPORATION),Masafumi Takei(TOSHIBA CORPORATION)
キーワード: GIS|スペーサ|帯電|電荷重畳法
要約(日本語): ガス絶縁開閉機器(GIS)は、交流で用いられる場合においても断路器開極時に最大で運転電圧分の直流電圧が残留する。この直流電圧によってスペーサ表面に帯電が生じ、逆電圧印加時の破壊電圧が低下することが指摘されている。そこで絶縁信頼性向上の観点から、直流電圧残留時の帯電進展現象に関する研究が進められている。筆者らはスペーサ表面導電率が不均一な場合、表面導電率が変化する境界を中心に帯電が生じることを実験・計算の両面から確認している。本稿では、スペーサの表面導電率が不均一な場合における沿面電界分布と帯電量を、複素仮想電荷を用いた電荷重畳法によって計算した結果を報告する。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 773 Kバイト
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