雷インパルス耐電圧試験の波形評価における新たなベースカーブ抽出法の検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-042

グループ名: 【全国大会】平成22年電気学会全国大会論文集

発行日: 2010/03/05

タイトル(英語): Study on New Base Curve Fitting Methods for Waveform Evaluation of Lightning Impulse Withstand Voltage Test

著者名: 坪井 敏宏(東京電力),植田 玄洋(東京電力),高見 潤(東京電力),岡部 成光(東京電力)

著者名(英語): Toshihiro Tsuboi(Tokyo Electric Power Company),Genyo Ueta(Tokyo Electric Power Company),Jun Takami(Tokyo Electric Power Company),Shigemitsu Okabe(Tokyo Electric Power Company)

キーワード: 高電圧試験技術|雷インパルス耐電圧試験|波形評価|ベースカーブ|オーバーシュート率

要約(日本語): IEC60060-1「高電圧試験技術」に，雷インパルス耐電圧試験における試験電圧波形のオーバーシュートを評価するk-factorが導入される。この処理の中で記録波形からベースカーブを抽出することが規定されており，主に二重指数関数へフィッティングする方法が検討されている。しかし，対象波形によっては，オーバーシュート率の算出に不合理をもたらす。そこで本稿では，2種類の新たなベースカーブ抽出法を提案し，IEC61083-2 TDGの発生する波形に適用して，改善効果を検証した。記録波形の振動部の影響を取り除いてフィッティングする新ベースカーブ抽出法では，オーバーシュート率の評価は大幅に改善された。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 862 Kバイト