暴露試験を補間することを目的に実施した国内太陽光発電システム調査結果

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-079

グループ名: 【全国大会】平成22年電気学会全国大会論文集

発行日: 2010/03/05

タイトル(英語): Result of research for photovoltaic system which was conducted for the purpose to interpolate exposure test

著者名: 加藤 宏(電気安全環境研究所),若嶋 由雄(電気安全環境研究所),卜部 亮(電気安全環境研究所)

著者名(英語): Hiroshi Kato(Japan Electrical Safety & Environment Technology Laboratories),Yoshio Wakashima(Japan Electrical Safety & Environment Technology Laboratories),Ryo Urabe(Japan Electrical Safety & Environment Technology Laboratories)

キーワード: 暴露試験|太陽光発電システム調査|劣化事象|劣化レベル|ストレス係数

要約(日本語): 現在，太陽電池モジュール（以下，「モジュール」と略す）は，25年とも，30年とも言われる寿命が期待されるに至った。しかし，この寿命を評価する標準的な試験方法は，現時点においては発表されておらず，今後この寿命を評価する加速試験の早急な開発が望まれている。 この様な状況下において，JETは，先の加速試験の開発に向け，平成21年9月のＢ部門大会までに，JETが実施中の最長17年に及ぶ暴露試験結果とともに，結晶系Si系モジュールに限定されるが出力低下の要因について発表してきた。今回は，暴露試験の限られたモジュール数，機種，限定された試験期間・場所での結果を補間し，前段に示した加速試験の開発に必要なモジュールの劣化要因を特定することを目的に，実施した国内太陽光発電システム調査結果を報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,686 Kバイト