PENフィルムにおける絶縁破壊の強さの温度依存性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-010

グループ名: 【全国大会】平成23年電気学会全国大会論文集

発行日: 2011/03/05

タイトル(英語): Temperature Dependence of Breakdown Strength on PEN Film

著者名: 高橋慎吾 (豊橋技術科学大学),鳥本慎也 (豊橋技術科学大学),村上義信 (豊橋技術科学大学),栗本宗明 (豊橋技術科学大学),長尾雅行 (豊橋技術科学大学),吉田哲男 (帝人デュポンフィルム)

キーワード: ポリエチレンナフタレート|McKeown電極|絶縁破壊

要約(日本語): ポリエチレンナフタレート(PEN)フィルムは他の高分子フィルムに比べ、熱的特性や電気的特性が優れているため、コンデンサ、モータ等の部品や機器、更に有機半導体の電気電子絶縁材料等に幅広く使用されている。また、高分子フィルムを用いる部品や機器の小型化に伴い、用いられる高分子フィルムも薄い膜厚のものが望まれている。筆者らは極めて薄いフィルムの室温において正確な絶縁破壊の強さ(Fb)を測定することができるMcKeown電極系を開発してきた。本研究ではPENフィルムの高温における絶縁破壊特性を把握するため、種々の電極系を用いてPENフィルムのFbの温度依存性を測定したので報告する。

原稿種別: 日本語

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