テラヘルツ分光による架橋ポリエチレンの放射線劣化診断の可能性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-029

グループ名: 【全国大会】平成23年電気学会全国大会論文集

発行日: 2011/03/05

タイトル(英語): Possibility of Diagnosis of Radiation-induced Degradation in Cross-linked Polyethylene by Terahertz Spectroscopy

著者名: 小松 麻理奈(早稲田大学),佐藤 遼(早稲田大学),大木義路 (早稲田大学),水野 麻弥(情報通信研究機構),福永 香(情報通信研究機構)

著者名(英語): Marina Komatsu(Waseda University),Ryo Sato(Waseda University),Yoshimichi Ohki(Waseda University),Maya Mizuno(National Institute of Information and Communications Technology),Kaori Fukunaga(National Institute of Information and Communications Technology)

キーワード: テラヘルツ光|ケーブル絶縁体|非破壊診断|架橋ポリエチレン|放射線劣化

要約(日本語): ケーブルの高分子絶縁材料は、放射線環境下で酸化劣化する。本稿ではテラヘルツ分光を用い、ケーブル絶縁体の酸化劣化に対する非破壊診断の可能性について基礎的検討を行った。100 ℃で60Co線を照射した架橋ポリエチレンを用い、時間領域分光透過法により測定したところ、放射線により結晶化度が低下したことを示すと思われる吸収の窪みが、72.5 cm-1付近に現れた。また、複素屈折率測定では、屈折率の立ち上がりと消衰係数のピークが確認できた。これは放射線照射による酸化劣化が原因と思われる。今後、量子化学計算等によりこれらの推定を検証し、本手法が劣化診断に適用できるかどうか検討を進める。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 756 Kバイト