異物付着による平角エナメル線のPDIV低下メカニズム解析

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-038

グループ名: 【全国大会】平成23年電気学会全国大会論文集

発行日: 2011/03/05

タイトル(英語): A Mechanism of PDIV Degradation of Enameled Flat Wire caused by adhesion of Metal Dust

著者名: 高橋 芳光(日本自動車部品総合研究所),脇本 亨(日本自動車部品総合研究所),香田 請司(デンソー)

著者名(英語): Yoshimitsu Takahashi(NIPPON SOKEN,INC.),Toru Wakimoto(NIPPON SOKEN,INC.),Sjinji Kouda(DENSO corporation)

キーワード: エナメル線|部分放電|部分放電開始電圧|金属粉|電界変化

要約(日本語): 高電圧サージが印加される車両用駆動モータにおける巻線間の絶縁確保のためには、温度や異物混入といった使用環境を考慮した部分放電開始電圧の低下要因を把握することが重要である。 本報告では、平角エナメル線にて、金属粉の付着・堆積がＰＤＩＶに及ぼす影響を評価し、金属粉堆積時には、最大で２０％程度ＰＤＩＶが低下することを実験にて明らかにした。そのメカニズムとして、金属粉の堆積有無による線間ギャップ部の電界解析を行い、エナメル線接触部より離れた側面に金属粉が堆積した場合、金属粉～皮膜間の電界強度を上昇させるため、ＰＤＩＶが低下することを明らかにした。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 718 Kバイト