うず電流探傷技術を用いたPCB検査における傷抽出のための計測と画像処理

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-138

グループ名: 【全国大会】平成23年電気学会全国大会論文集

発行日: 2011/03/05

タイトル(英語): Measurement and Image Processing for Defect Detecting in PCB Inspection Using Eddy Current Testing

著者名: 山中亮史 (金沢大学),井波孝仁 (金沢大学),山田外史 (金沢大学),池畑芳雄 (金沢大学)

キーワード: うず電流探傷|高速化|プリント基板検査|画像処理

要約(日本語): うず電流探傷法を用いたプリント基板検査法について，信号の高速取得の一手法について検討した．今回作成した計測機器ではプローブを計測点ごとに停止させずとも計測可能であることを確認し，計測時間を十数分の一に短縮することができた．また，画像処理を行うことによって，高速化を実現しながら，探傷に成功した．

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,509 Kバイト