薄膜導体の繰り返し及び非繰り返し引張応力による超電導層のクラックの様子と交流通電損失特性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-127

グループ名: 【全国大会】平成23年電気学会全国大会論文集

発行日: 2011/03/05

タイトル(英語): Relation between AC transport current losses in coated conductor and manners of cracks in superconductor layers caused by repeated and non repeated tensile stresses

著者名: 本澤竜太 (上智大学),宇野 大河(上智大学),尾島 卓美(上智大学),野田 豪(上智大学),高尾 智明(上智大学),塚本 貴広(横浜国立大学),飯田 祐介(横浜国立大学),荻野俊郎 (横浜国立大学),塚本 修巳(横浜国立大学)

著者名(英語): Ryuta Honzawa(Sophia University),Taiga Uno(Sophia University),Takumi Ojima(Sophia University),Takeshi Noda(Sophia University),Tomoaki Takao(Sophia University),Takahiro Tsukamoto(Yokohama National University),Yusuke Iida(Yokohama National University),Toshirou Hagino(Yokohama National University),Tsukamoto Osami(Yokohama National University)

キーワード: セム

要約(日本語): 我々は、銅安定化YBCO 薄膜導体について、繰り返しおよび非繰り返し引張応力を導体長さ方向に加えたときでは臨界電流Ic の劣化にともなう交流通電損失特性の様相が異なることを示した。この理由として、繰り返し応力の加え方の違いにより超電導層に生じるクラックの様子が異なるためであるとした。具体的には、繰り返し応力印加の場合は最初の応力印加により発生した分散的で小さい超電導層のクラックが、応力の繰り返しにより成長したと考えられ、非繰り返し応力印加の場合、細かいクラックが多数、分布的に生じているという状況であるとした。今回はSEM 観察により、応力の加え方の違いによる超電導層のクラックの様子の違いを調べたので報告する。

原稿種別: 日本語

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