走査型ホール素子顕微鏡を用いたRE-123線材の局所的臨界電流密度分布評価

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-132

グループ名: 【全国大会】平成23年電気学会全国大会論文集

発行日: 2011/03/05

タイトル(英語): Investigation on the Distribution of Local Critical Current Density in RE-123 Coated Conductor Using Scanning Hall-Probe Microscopy

著者名: 東川 甲平(九州大学),川口 鉄平(九州大学),井上 昌睦(九州大学),木須隆暢 (九州大学),飯島 康裕(フジクラ),柿本 一臣(フジクラ),斉藤 隆(フジクラ),和泉 輝郎(国際超電導産業技術研究センター)

著者名(英語): Kohei Higashikawa(Kyushu University),Teppei Kawaguchi(Kyushu University),Masayoshi Inoue(Kyushu University),Takanobu Kiss(Kyushu University),Yasuhiro Iijima(Fujikura Ltd.),Kazuomi Kakimoto(Fujikura Ltd.),Takashi Saitoh(Fujikura Ltd.),Teruo Izumi(ISTEC)

キーワード: 高温超電導線材|臨界電流密度分布|走査型ホール素子顕微鏡

要約(日本語): 希土類系高温超電導線材（RE-123線材）に関しては，作製プロセスの飛躍的進展により，最近ではかなり均一な特性の長尺線材が得られるようになっている。一方， a) 交流損失低減に向けた細線化などの加工性検討 b) 局所発熱につながる局所欠陥・低Jc部の検出 c) n値などの電流輸送特性の形状の改善に際しては，上記スケールでの評価では不十分であり，比較的高い分解能での局所的臨界電流密度分布の評価が必要となる。そこで本研究では，外部磁界印加用コイルを備えた走査型ホール素子顕微鏡システムにより，RE-123線材の局所的臨界電流密度（Jc）分布を評価した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,228 Kバイト