粒子法・有限要素法の連成による静電霧化現象の解析

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-187

グループ名: 【全国大会】平成23年電気学会全国大会論文集

発行日: 2011/03/05

タイトル(英語): Numerical analysis of electrostatic atomization employing MPS method and FEM

著者名: 吉村 隆洋(大阪大学),吉川 岳(大阪大学),中村 遼太(大阪大学),平田 勝弘(大阪大学),宮坂 史和(大阪大学)

著者名(英語): Takahiro Yoshimura(Osaka University),Gaku Yoshikawa(Osaka University),Ryota Nakamura(Osaka University),Katsuhiro Hirata(Osaka University),Humikazu Miyasaka(Osaka University)

キーワード: 粒子法|有限要素法|連成解析|静電霧化|数値解析

要約(日本語): 　著者らは、高電界中に置かれた水滴が、静電霧化イオンと呼ばれる帯電した水微粒子となって空間へ射出される静電霧化現象の数値解析手法の研究を進めてきた。静電霧化現象の解析には流体と電界の相互作用を解析する必要があり、流体解析には粒子法の一種であるMPS法を、電界解析には有限要素法を用いた連成解析手法を提案している。　本稿では、空間中に射出された粒子に水滴表面の誘導電荷を与えることで、射出された水滴の電荷を考慮した電界解析を行う。また、表面張力計算において、曲率の大きい凸形状の水滴表面に強い表面張力を作用させるために、粒子間力の修正を行うことで、水滴挙動の解析に対する有効性を確認したので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 2,045 Kバイト