モンテカルロ法を利用した真空接点の消耗量計算

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-271

グループ名: 【全国大会】平成23年電気学会全国大会論文集

発行日: 2011/03/05

タイトル(英語): Computational prediction of vacuum contact erosion using Monte Carlo method

著者名: 道念 大樹(三菱電機),月間 満(三菱電機),越智 聡(三菱電機),古賀 博美(三菱電機)

著者名(英語): Taiki Donen(Mitsubishi Electric),Mitsuru Tsukima(Mitsubishi Electric),Satoshi Ochi(Mitsubishi Electric),Hiromi Koga(Mitsubishi Electric)

キーワード: 真空バルブ|接点消耗量|モンテカルロ法

要約(日本語): 真空バルブの寿命を決定する要因の一つに、電流開閉に伴う接点消耗がある。接点消耗量には、遮断回数だけでなく、遮断電流波形や開極位相など種々の要因が関与し、全条件での消耗量を実験的に決定することは困難である。今回、モンテカルロ法を利用した接点消耗量計算を実施し、実測結果との整合性を調べると共に、遮断電流の周波数を変化させた場合の影響を計算したので、報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 802 Kバイト