コンデンサバンク投入試験法の開発

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-277

グループ名: 【全国大会】平成23年電気学会全国大会論文集

発行日: 2011/03/05

タイトル(英語): Development of making test method for capacitor bank

著者名: 種子田賢宏 (東芝),工藤 喜悦(東芝),宮崎 健作(東芝),河野 広道(東芝)

著者名(英語): Takahiro Taneda(TOSHIBA),Kietu Kudo(TOSHIBA),Kensaku Miyazaki(TOSHIBA),Hiromichi Kwano(TOSHIBA)

キーワード: 開閉機器|試験法|コンデンサバンク

要約(日本語): 日本国内の電力系統に適用されているコンデンサバンクは、一般に6 (%)程度の直列リアクトルを設けている事が多く、コンデンサバンク用開閉器の投入操作時の突入電流による接触子損耗の影響は問題視されておらず、突入電流の規定はされていない(1)。しかし、海外の電力系統に適用されるコンデンサバンク用開閉器には、back-to-backコンデンサバンクの開閉についても規定されている(2)。Back-to-backコンデンサバンクの突入電流波高値は20 (kA)、その周波数は4250 (Hz)と規定されている。今回、開閉器の定格電圧245 (kV)を対象に単相投入試験を交流電圧印加方式で行ったので紹介する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 666 Kバイト