複母線ループ電流開閉用電路器のサンプリング調査

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-288

グループ名: 【全国大会】平成23年電気学会全国大会論文集

発行日: 2011/03/05

タイトル(英語): Sample Investigation of DS for Switching Buses of 275kV GIS

著者名: 高橋 一嘉(中部電力),吉川 勇治(中部電力),田中 博吉(中部電力),田上 勝(中部電力),副島 浅信(中部電力),川村 健(中部電力),川田 牧子(三菱電機),小野 幸男(三菱電機),伊東啓太 (三菱電機)

著者名(英語): Kazuyoshi,Takahashi|Yuuji,Yoshikawa|Hiroyoshi,Tanaka|Masaru,Tanoue|Asanobu,Soejima|Takeshi,Kawamura|Makiko,Kawada|Yukio,Ono|Keita,Ito

キーワード: サンプリング調査|275kVGIS用断路器|コンタクト損耗|銀めっき|摩耗|コンタクトグリース

要約(日本語): ｶﾞｽ遮断器については，これまでの研究によりｶﾞｽ中摺動部およびｶﾞｽ中ｸﾞﾘｰｽ等の劣化が寿命決定要因となることを確認してきた。一方，GIS用断路器では，内部開放点検や劣化調査の例が少ないため，筆者らは，77kVGIS用断路器の内部開放点検（経過年数29年，動作回数300回程度）を行い，機器構成部品毎の劣化状況を調査してきた。今回，275kVGISで，系統切替等で複母線ﾙｰﾌﾟ電流開閉を比較的多く行う断路器（経過年数31年，動作回数900回程度）について，内部開放点検により、ｺﾝﾀｸﾄおよびｺﾝﾀｸﾄｸﾞﾘｰｽの劣化状況を調査したので報告する。

原稿種別: 日本語

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