雷インパルス試験波形のオーバーシュート率評価のためのベースカーブ抽出法の検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-107

グループ名: 【全国大会】平成23年電気学会全国大会論文集

発行日: 2011/03/05

タイトル(英語): Study on Base Curve Fitting Method for Evaluating Overshoot Rate of Lightning Impulse Withstand Voltage Test Waveform

著者名: 植田 玄洋(東京電力),坪井 敏宏(東京電力),岡部 成光(東京電力)

著者名(英語): Genyo Ueta(Tokyo Electric Power Company),Toshihiro Tsuboi(Tokyo Electric Power Company),Shigemitsu Okabe(Tokyo Electric Power Company)

キーワード: 雷インパルス耐電圧試験|オーバーシュート波形|ベースカーブ|記録波形|IEC60060-1

要約(日本語): IEC60060-1「高電圧試験技術」において，雷インパルス耐電圧試験における試験電圧波形のオーバーシュートを，k-factor関数を用いて評価することが規定されている。この評価手続きにおいて二重指数関数でベースカーブをフィッティングする事が規定されている。しかしながら対象波形によっては，ベースカーブが高めにフィッティングされオーバーシュート率の算出に不合理をもたらす可能性がある。この課題に対して，先行研究では新たなベースカーブ抽出法について提案を行った。本報告では，数式で模擬したオーバーシュート波形に各種フィッティング手法を適用し，その得失を評価する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 981 Kバイト