キセノンランプ照射がプリント配線板上パターン導体間のESDフラッシオーバ電圧に及ぼす影響

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-038

グループ名: 【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集

発行日: 2012/03/05

タイトル(英語): Influences of Xenon Lump Irradiation to the Foil Conductors on Printed Wiring Board on Flashover Voltage

著者名: 坪井 浩太郎(九州工業大学),岩井 将(九州工業大学),大塚信也 (九州工業大学)

著者名(英語): Kotaro Tsuboi(Kyushu Institute of Technology),Sho Iwai(Kyushu Institute of Technology),Shinya Ohtsuka(Kyushu Institute of Technology)

キーワード: 静電気放電|プリント配線板|キセノンランプ|初期電子

要約(日本語): 静電気放電（ESD）に対する電子機器の誤動作の問題や、そのプリント配線のファインパターン化の促進から、著者らはESDサージに対する破壊特性の検討を行っている。一方、フラッシオーバ（FO）試験では破壊電圧（FOV）のばらつきが認められる。これは、初期電子発生確率や放電進展のばらつきによることが考えられる。プリント配線板上パターン導体間のESDフラッシオーバの特性理解などの観点から、FOVのばらつきを抑制し、試験の再現性を向上させることは重要である。本論文では、キセノンランプ照射による初期電子発生確率が破壊特性に及ぼす影響を調べることを目的とし、プリント配線板上パターン導体間におけるFOVとそのばらつきを、キセノンランプ照射有無で比較検討した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 822 Kバイト