Cu-Cr電極真空バルブのV-t特性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-074

グループ名: 【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集

発行日: 2012/03/05

タイトル(英語): V-t Characteristic of Vacuum Interrupters

著者名: 古川 貴皓(東京大学),松岡 成居(東京大学),熊田 亜紀子(東京大学),池田 久利(東京大学),日高 邦彦(東京大学)

著者名(英語): Takaaki Furukawa(University of Tokyo),Sigeyasu Matsuoka(University of Tokyo),Akiko Kumada(University of Tokyo),Hisatoshi Ikeda(University of Tokyo),Kunihiko Hidaka(University of Tokyo)

キーワード: 真空遮断器|V-t特性|F-Nプロット|接点材料

要約(日本語): 真空バルブの高耐圧化のためには電流遮断や絶縁破壊による表面状態の劣化を防ぐことが重要な課題となる。そこで、大電流遮断前後における真空バルブのV-t特性を測定・比較し、電極表面の状態の変化が真空バルブの絶縁耐力に及ぼす影響を調査した。V-t特性とは、電圧印加開始から、絶縁破壊までの遅れ時間の関係をプロットしたものである。測定結果からは正・負極性両方の場合において、電流遮断後の方が最低破壊電圧が上昇していることが読みとれた。Ag-WC電極真空バルブを用いてV-t特性を測定した先行研究においては、電流遮断後の方が最低破壊電圧が低下することが報告されているが、今回の測定結果はそれとは異なる結果が得られた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 612 Kバイト