コンディショニング過程で生じるパルス状電流と真空中絶縁破壊電界の関係

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-079

グループ名: 【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集

発行日: 2012/03/05

タイトル(英語): Relationship between vacuum breakdown fields with the pulsed current in conditioning process

著者名: 山本 孝太(埼玉大学),山納 康(埼玉大学),小林 信一(埼玉大学),高橋 大造(明電舎)

著者名(英語): Kouta Yamamoto(Saitama University),Yasushi Yamanou(Saitama University),Shinichi Kobayashi(Saitama University),Daizo Takahashi(Meidensha Corporation)

キーワード: 真空放電|絶縁破壊|パルス状電流

要約(日本語): 電極表面の清浄化により、真空ギャップでの絶縁耐力を向上させることが可能であることがわかっている。これまで、コンディショニング過程で生じるパルス状放電は絶縁破壊と同様に電極表面を清浄化することができることが確認されている。本研究では、パルス状電流の発生回数とコンディショニング後の絶縁破壊電界の関係を調査した。すると、パルス状電流発生回数の多い方が、コンディショニング飽和後の平均絶縁破壊電界が高くるという結果が得られた。その要因としては、パルス状電流発生による電極表面のコンディショニング効果が考えられる。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 914 Kバイト