光ファイバーアセンブリを用いた100 kHz?10 MHzの高周波減衰量測定装置

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-121

グループ名: 【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集

発行日: 2012/03/05

タイトル(英語): Attenuation Measurement System in the Frequency Range of 100 kHz to 10 MHz Using Optical Fiber Assembly

著者名: ウィダルタアントン (産業技術総合研究所)

著者名(英語): Anton Widarta(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology)

キーワード: 減衰量計測|高周波|標準|光ファイバ|電磁環境

要約(日本語): 高周波減衰量は高周波回路の基本量の1つとして重要であり、高周波電力計測やアンテナ計測等をはじめ、多くの高周波・マイクロ波計測及び校正技術において利用されている。産総研ではこれまでに10 MHzから40 GHzまでの高周波減衰量標準を確立して供給を行っている。一方、周波数範囲が数kHzから扱うEMC・EMI分野の最近の規格では，各量の計測に対するトレーサビリティも要求されるようになり、これに対応する標準も必要とされる。 本稿は産総研で開発されている周波数範囲100 kHz?10 MHzの高周波減衰量測定装置について紹介し、光ファイバーアセンブリの導入による効果について述べる。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 665 Kバイト