電子機器内部の電磁界強度測定法の提案

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-157

グループ名: 【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集

発行日: 2012/03/05

タイトル(英語): Proposal of Measurement Method for Measuring Electromagnetic Field Intensity inside Electronic Devices

著者名: 小峯 裕司(東京都市大学),千代 憲隆(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学),前野 恭(情報通信研究機構)

著者名(英語): Yuji Komine(Tokyo Sity University),Noritaka Chiyo(Tokyo Sity University),Yasuhiro Tanaka(Tokyo Sity University),Takashi Maeno(National Institute of Information and Communications Technology)

キーワード: 電子機器|電磁界分布測定|ロックインアンプ|電磁波吸収幕|マイクロ波|赤外線カメラ

要約(日本語): 近年、電子機器から照射される電磁ノイズが問題となっており、我々は、電磁波を吸収し発熱する幕(電磁波吸収幕)の温度変化を赤外線カメラで撮像することにより、電磁界強度分布を測定する装置を開発している。本装置では、2次元の電磁界強度分布を、設置した幕の温度変化として観測することで、波源の近傍でも測定対象である電磁界を乱すことは少なく測定できることが示されている。しかし、上記のような電子機器内部の電磁界評価では、幕の温度変化を観測するための赤外線カメラを機器内部に設置することは難しい。そこで、ここでは金網を通して温度分布を観測する手法を提案する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 905 Kバイト